FT110A
XRF - Schichtdickenmessgerät
Mit einer Fülle an Standardfunktionen, mit denen sich Schichtdicken schneller und einfacher denn je messen lassen, kann der FT110A über eine große Auswahl an Optionen optimal eingestellt werden.
Merkmale:
Mehrere Blenden – Zwei 0,1- und 0,2- mm-Kollimatoren sind standardmäßig dabei und bieten die Flexibilität, unterschiedlich große Probenteile zu verarbeiten.
Großes Analysespektrum – bestimmen Sie die Schichtdicken von Titan (22) bis Uran (92).
Kalibrierung und FP-Methoden – verwenden Sie sowohlempirische Verfahren als auch grundlegende Parameter, um die Dicke und Zusammensetzung einer Beschichtung zu analysieren.
Große Probenkammer – der FT110A kann Proben bis zu 500 x 400 x 150 mm und bis zu 10 kg messen.
Messungen mit einem Klick – mit der optimierten automatischen Zentrierung kann praktisch jeder Benutzer eine Analyse durchführen.
Merkmale:
Mehrere Blenden – Zwei 0,1- und 0,2- mm-Kollimatoren sind standardmäßig dabei und bieten die Flexibilität, unterschiedlich große Probenteile zu verarbeiten.
Großes Analysespektrum – bestimmen Sie die Schichtdicken von Titan (22) bis Uran (92).
Kalibrierung und FP-Methoden – verwenden Sie sowohlempirische Verfahren als auch grundlegende Parameter, um die Dicke und Zusammensetzung einer Beschichtung zu analysieren.
Große Probenkammer – der FT110A kann Proben bis zu 500 x 400 x 150 mm und bis zu 10 kg messen.
Messungen mit einem Klick – mit der optimierten automatischen Zentrierung kann praktisch jeder Benutzer eine Analyse durchführen.
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