Results 1 - 5 of 5
Bild
Name
Kurzbeschreibung
Die Stärken des LAB-X5000 sind seine Einfachheit und Robustheit. Über die übersichtliche Benutzeroberfläche kann jeder Bediener reproduzierbare Ergebnisse auf Knopfdruck erzielen. Der automatische Positionierer bewegt die Probe nach der Messung weg vom Röntgenstrahl und Detektor, um sie vor Schäden durch auslaufende Materialien zu schützen.
Bild
Name
Kurzbeschreibung
Für eine zuverlässige Qualitätskontrolle auf Tastendruck ist das X-Supreme8000 das ideale RFA-Analysegerät. Es liefert reproduzierbare und genaue Ergebnisse für Materialien wie Petrochemikalien, Polymere, Mineralien und Chemikalien in der Produktion und im Labor. Das sorgt für effiziente Prozesse.
Bild
Name
Kurzbeschreibung
Das FT110A unterstützt in vielen Industrien, die Anforderungen an Beschichtungen zu erfüllen. Mit dem fortschrittlichen Videosystem, der neuen automatischen Messpositionsfunktion und dem großen Probentisch ist dieses Schichtdickenmessgerät anwenderfreundlich und erreicht einen hohen Probendurchsatz. Das Gerät wird über eine intuitive Benutzeroberfläche auf der Windows-basierten Software gesteuert.
Bild
Name
Kurzbeschreibung
Das FT150 – Genaue Schichtdickenmessung bis zum letzten Nanometer.
Das FT150 bewältigt die Herausforderungen ultradünner Beschichtungen, wie sie zum Beispiel bei den immer kleiner werdenden Elektronikkomponenten vorkommen.
Das FT150 bewältigt die Herausforderungen ultradünner Beschichtungen, wie sie zum Beispiel bei den immer kleiner werdenden Elektronikkomponenten vorkommen.
Bild
Name
Kurzbeschreibung
Schichtdickenanalyse, basierend auf Röntgenfluoreszenz (XRF).
Das X-Strata920 wurde für die Bestimmung von Ein- und Mehrfach- sowie Legierungsschichten in der Elektronik- und Metallveredelungsindustrie konzipiert.
Das X-Strata920 wurde für die Bestimmung von Ein- und Mehrfach- sowie Legierungsschichten in der Elektronik- und Metallveredelungsindustrie konzipiert.
