Wenn jeder Nanometer zählt - FT160

Ausgestattet mit einer polykapillaren Röntgenfokussieroptik und einem Silizium-Driftdetektor ermöglicht das FT160 eine hochpräzise und durchsatzstarke Schichtdickenmessung von elektronischen Bauteilen im Nanobereich.

Das FT160 wurd entwickelt, um die Herausforderungen ultradünner Beschichtungen, wie sie heutzutage bei den immer kleiner werdenden Elektronikkomponenten vorkommen, zu meistern. Es liefert schnelle, genaue und reproduzierbare Ergebnisse, steigert die Produktivität und senkt die Kosten für ungenaue Beschichtungen auf Leiterplatten, Halbleitern, Mikrosteckern usw. Er ist anwenderfreundlich, lässt sich problemlos in Ihre Qualitätskontrolle integrieren und warnt Sie rechtzeitig bei Problemen.